QJ-1827低阻值金屬鍍覆層和化學(xué)轉(zhuǎn)換膜層接觸電阻測(cè)試方法
發(fā)布時(shí)間： 2023-08-24 10:54:46 點(diǎn)擊： 350
QJ-1827低阻值金屬鍍覆層和化學(xué)轉(zhuǎn)換膜層接觸電阻測(cè)試方法
低阻值金屬鍍覆層和化學(xué)轉(zhuǎn)換膜層接觸電阻測(cè)試方法可以采用四點(diǎn)探針?lè)ㄟM(jìn)行測(cè)試。以下是測(cè)試的基本步驟：
準(zhǔn)備測(cè)試設(shè)備和樣品。將待測(cè)樣品放置在測(cè)試臺(tái)上，確保樣品表面平整、無(wú)雜質(zhì)和劃痕。
使用四點(diǎn)探針?lè)謩e接觸樣品的鍍覆層或化學(xué)轉(zhuǎn)換膜層，并記錄測(cè)試點(diǎn)的位置。
調(diào)整探針的距離和壓力，確保探針與樣品良好接觸，但不要施加過(guò)大的壓力，以免損壞樣品。
連接測(cè)試儀器，設(shè)置適當(dāng)?shù)臏y(cè)試參數(shù)，如測(cè)試電壓、測(cè)試時(shí)間等。
開始測(cè)試，記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，包括接觸電阻值、電流值等。
需要注意的是，對(duì)于低阻值金屬鍍覆層和化學(xué)轉(zhuǎn)換膜層的接觸電阻測(cè)試，精確測(cè)量接觸電阻值需要采用高精度的測(cè)試儀器和合適的測(cè)試方法。同時(shí)，樣品的表面狀態(tài)、鍍層厚度、探針的壓力和接觸面積等因素也會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。因此，在進(jìn)行測(cè)試前，需要對(duì)這些因素進(jìn)行充分的考慮和修正，以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
